OES火花直讀光譜測試儀是分析黑色金屬及有色金屬成份的快速定量分析儀器。本儀器廣泛應(yīng)用于冶金、機械及其他工業(yè)部門，進行冶煉爐前的在線分析以及中心實驗室的產(chǎn)品檢驗，是控制產(chǎn)品質(zhì)量的有效手段之一。

OES火花直讀光譜測試儀采用CMOS檢測器全譜測試技術(shù),可測試覆蓋波長范圍內(nèi)的所有譜線，配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護和實驗室放置。OES8000s是測試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器，可以滿足包括：Fe基體、Cu基體、Al基體、Ti基體、Pb基體、

Mg基體、Co基體等基體要求，是金屬元素分析的較優(yōu)選擇。

全譜分析技術(shù)，方便配置更多基體和元素，方便在用戶現(xiàn)場補充配置

儀器體積小巧，對實驗室空間要求低

工作時間長，具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性

樣品測試速度快，單次測試過程少于40秒

儀器使用和維護簡單、方便，對人員專業(yè)要求低

原廠安裝分析程序，測試數(shù)據(jù)準確，適用合金牌號齊全

配置標準化樣品可對儀器進行周期性校正

不使用化學(xué)試劑，測試過程安全、環(huán)保

技術(shù)優(yōu)勢

天瑞直讀光譜儀OES8000s廣泛應(yīng)用于鋼鐵及有色金屬產(chǎn)品元素分析，快速、準確、穩(wěn)定、可靠測試幾十種元素，滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進料檢驗、產(chǎn)品分選多方面檢驗需求，是生產(chǎn)金屬產(chǎn)品的設(shè)備。

全譜檢測測試各種金屬和元素

基于CMOS檢測器全譜測試技術(shù)，測試各種金屬中元素的譜線，方便實現(xiàn)多基體、多元素的測試。

配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補充測試元素、分析程序。

國際*供應(yīng)商提供核心部件

光譜色散元件——光柵由德國Zeiss/法國JY公司制造，保證優(yōu)異的光譜分辨能力

光譜檢測器——CMOS探測器由日本濱松制造，確保譜線檢測靈敏、低噪聲

光室恒溫系統(tǒng)

光室恒溫腔體內(nèi)配置反饋式加熱裝置和隔溫層，有效保證光室內(nèi)恒溫。

由此抑制溫度變化下機械件尺寸微弱變化導(dǎo)致的光路漂移。除特殊維護，平時保養(yǎng)一般不需進行描跡。

同時檢測器工作在恒溫環(huán)境有助于光電轉(zhuǎn)換性能的穩(wěn)定。

快速同時分析鋼鐵、有色金屬材料中多種元素

將已預(yù)處理樣品置于樣品臺后，OES8000s可在至多40秒內(nèi)呈現(xiàn)測試結(jié)果。

可根據(jù)客戶需求，測試幾乎所有鋼鐵、有色金屬材料中常見元素含量。

專業(yè)的測試方案

長期測試技術(shù)服務(wù)的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案。

測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見測試需求。

分析程序由原廠采用國際、國家標準樣品校準，經(jīng)專業(yè)儀器軟件擬合、校正。

用戶只需采用原廠配置少量標準化樣品即可完成日常維護，不需購買大量制作分析程序的標準樣品。

工作條件

工作溫度：15-30℃

相對濕度：≤70%

電    源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω

實驗室無震動、粉塵、強電磁干擾、強氣流、腐蝕性氣體

技術(shù)性能及指標

1.   分光室設(shè)計

 帕邢-龍格結(jié)構(gòu),羅蘭圓直徑400mm

 波長范圍140 – 680nm

 像素分辨率10pm

 恒溫33℃±0.2℃

 特殊材質(zhì)鑄造，保證光室形變小

 間歇式真空系統(tǒng)，可保證真空泵運行時間小于5%

2.   凹面光柵

 刻線密度3600l/mm

 光譜線色散率：1.04 nm/mm

3.   檢測器

 高性能線陣CMOS

4.   分析時間

 依樣品種類而不同，一般少于40秒

5.   激發(fā)光源

 全數(shù)字等離子火花光源技術(shù)

 高能預(yù)燃技術(shù) (HEPS)

 頻率100-1000Hz

 電流1-80A

6.   激發(fā)臺

 3mm樣品臺分析間隙

 噴射電極技術(shù)

 特殊設(shè)計的氣路系統(tǒng)，保證低氬氣消耗

7.   尺寸和重量

 高450mm 長900mm 寬600 mm

 120 kg

8.   功率

 大功率1500W

 待機功率70W