全新上照式設(shè)計(jì)，微聚焦，搭載可編程自動(dòng)位移平臺(tái)，無人值守、自動(dòng)檢測多樣品，且更加智能化，采用自主研發(fā)的AI影像識(shí)別功能可完成智能尋點(diǎn)，自動(dòng)匹配測試。對各超大異形件及微小密集型多點(diǎn)的測試更加高效、智能。
XTD-200是一款全自動(dòng)型鍍層測厚儀/膜厚測試儀/光譜測厚儀，全新上照式設(shè)計(jì)，微聚焦，搭載可編程自動(dòng)位移平臺(tái)，無人值守、自動(dòng)檢測多樣品，且更加智能化，采用自主研發(fā)的AI影像識(shí)別功能可完成智能尋點(diǎn)，自動(dòng)匹配測試。對各超大異形件及微小密集型多點(diǎn)的測試更加高效、智能。
聯(lián)系QQ：3324479300
聯(lián)系郵箱：3324479300@qq.com
傳真：
聯(lián)系地址：蘇州市玉山鎮(zhèn)中華園西路1888號
掃一掃 微信咨詢
©2025 蘇州福佰特儀器科技有限公司 版權(quán)所有 備案號：蘇ICP備2023016783號-1 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) sitemap.xml 總訪問量：169064 管理登陸
